Bu Analiz Ne İşe Yarar?

İnce film XRD analizi, bir substrat (cam, silikon, metal vb.) üzerine biriktirilmiş kaplamalar veya ince filmlerin kristal yapısını, oryantasyonunu ve kalitesini incelemeye yarar. Standart toz XRD’den farklı olarak, ışın çok küçük açıyla numuneye gönderilir; böylece altındaki substrat değil yalnızca kaplama tabakası incelenir.

Numune boyutu (1.5 – 3 cm) × (1.5 – 3 cm), yüksekliği 0.5 – 3 mm aralığında olmalıdır.

Bu Analizle Şu Soruların Cevabını Bulabilirsiniz

  • Camın üzerine kapladığım ince filmin kristal kalitesi nasıl?
  • Yaptığım kaplama yüzeye düzgün (epitaksiyel) yerleşmiş mi?
  • Gofret (wafer) üzerindeki tabakaların yapısal özellikleri nedir?
  • Yarı iletken ince filmimin kristal yapısı üretim parametrelerine göre değişiyor mu?

Kimler İçin Uygundur?

Yarı iletken ve elektronik malzeme üreticileri, optik kaplama firmaları, solar enerji araştırmacıları, yüzey mühendisliği grupları.

Analiz Hizmeti Almak İster misiniz?

Detaylı bilgi almak ve analiz başvurusu yapmak için bizimle iletişime geçin.