X-Işını Difraktometresi (XRD)

Marka, Model: Malvern PANalytical X’Pert PRO – Malvern PANalytical Empyrean MultiCore

Genel Bilgiler

X-Işını kırınım (XRD) yöntemi, bir malzemenin kristalografik yapısını ve kimyasal bileşimini belirlemek için kullanılan bir tekniktir. XRD, bir malzemeyi gelen X-ışınları ile ışınlayarak ve ardından malzemeyi terk eden X-ışınlarının yoğunluklarını ve saçılma açılarını ölçerek malzemenin kimyasal bileşimi ve kristal yapısı hakkında bilgi verir. X-Işını kırınım cihazıyla katı, toz ve ince film numunelerinin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilmektedir.

Cihazın Kabiliyetleri

X’Pert PRO

Anot Malzemesi : Cu
Maksimum Anot Akımı : 60 mA
Maksimum Anot Voltajı : 60 kV
Dalga Boyu : CuKα1 =1.54059 Angstrom
Ölçüm Konfigürasyonu : Teta-Teta (θ-θ)
Tarama Hızı : (İsteğe bağlı) derece/dakika
2θ Tarama Aralığı : 2o<2θ<120o
Yardımcı Ekipmanlar : İnce film kolimatörü, ICDD-PDF-4+ veritabanı

Empyrean MultiCore

Anot Malzemesi : Cu
Dedektör : PIXcel3D
X-Işını Güç Kaynağı : 4 kW (max 60 kV, max 100 mA)
Dalga Boyu : CuKα1=1.54059 Angstrom
Ölçüm Konfigürasyonu : Teta-Teta (θ-θ)
Maksimum Açısal Hız : 15 derece/sn
2θ Tarama Aralığı : -111o<2θ<168o
Açısal Çözünürlük : 0.026°
Örnek Tablası : 15 konumlu örnek değiştirici ile yansıma ve iletim döndürücü
Yüksek Sıcaklık Ünitesi : HTK 2000 (şerit ısıtıcı – strip heater)

Cihazın Kısıtları

• Toz numune partikül boyutu homojen ve 50 mikrometreden (µm) az olmalıdır.
• Toz numune miktarı en az 1 g olmalıdır.
• İnce film ya da bulk numune boyutu (1.5-3 cm)x(1.5-3 cm) ve yüksekliği 0.5-3 mm aralığında olmalıdır.
• Sıvı numune analizi yapılamamaktadır.

Yapılan Analizler

• Toz numune difraksiyon paterni çekimi
• İnce film difraksiyon paterni çekimi
• Faz tanımlama

Cihaz Personeli

X’Pert PRO
Dr. Tuğçe Unutkan Gösterişli : tugce.unutkan@merklab.yildiz.edu.tr

Empyrean MultiCore
Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr
Dr. Pelin Kavak : paydogan@yildiz.edu.tr
Dr. Ayşe Evrim Bulgurcuoğlu : bulgurcu@yildiz.edu.tr

X-Işını Floresans Spektrometresi (XRF)

Marka, Model: Panalytical Epsilon4

Genel Bilgiler

XRF, malzemelerin temel bileşimini belirlemek için kullanılan tahribatsız bir analitik tekniktir. Dalga boyu dağılımlı XRF cihazı ile yarı kantitatif olarak Na-U arası element taraması yapmak mümkündür. XRF analizörleri, bir birincil X-ışını kaynağı tarafından uyarıldığında bir örnekten yayılan floresan X-ışınını ölçerek bir örneğin kimyasını belirler. Bir numunede bulunan elementlerin her biri, o belirli element için benzersiz olan bir dizi karakteristik floresan X-ışını (bir parmak izi) üretir. Bu nedenle XRF, malzeme bileşiminin kalitatif ve kantitatif analizi için mükemmel bir teknolojidir.

Cihazın Kabiliyetleri

• ppm-% seviyesideki konsantrasyonlarda, XRF özellikle katıları ve tozları analiz ederken göz önünde bulundurulması gereken bir tekniktir.
• ICP ve AAS’nin aksine, XRF spektroskopisi numune çözünmesi gerektirmez, bu nedenle tahribatsız analize izin verir. Eksik çözünme ve büyük çözeltilerin neden olduğu yanlışlık potansiyelinden kaçınarak XRF ile yapılan analiz, sonuçların doğruluğunu ve güvenilirliğini sağlamaya yardımcı olur.
• Kimyasal atık olmadan basit, hızlı ve güvenli numune hazırlamaya olanak verir.
• Sistemde bulunan ince berilyum penceresi sayesinde hafif elementler (Na, Mg, Al, Si) için yüksek hassasiyette sonuçlar elde edilmektedir.
• Cihaz özellikleri; Silikon drift detektör, 32 mm çaplı 12 adet çıkarılabilir numune tutucu, helyum gaz ortamında çalışma

Cihazın Kısıtları

• Standartsız ölçüm yapılmaktadır. Raporlanan sonuçlar yarı kantitatiftir.
• Numune toz ise partikül homojen ve boyutu 50 um altında olmalıdır.

Yapılan Analizler

• Toprak, kayaç, mineral, metal gibi katı ürünler, yağ ve petrol numuneleri gibi sıvı ürünler ve preslenmiş toz gibi farklı formlarda numunelerin analizleri yapılabilmektedir.
• Metalürji ve kimya endüstrisinde, arkeolojik ve çevresel uygulamalarda, jeoloji ve mineraloji alanlarında, değerli metal analizinde, boya endüstrisinde ve gıda endüstrisinde kullanılabilmektedir.

Cihaz Personeli

Dr. Tuğçe Unutkan Gösterişli : tugce.unutkan@merklab.yildiz.edu.tr
Dr. Özlem Yağci : ozlem.yagci@merklab.yildiz.edu.tr