XRD Difraksiyon Paterni Çekimi – İnce Film
İnce Film Kaplamalarınızın Kristal Yapısını ve Faz Dağılımını Belirleyin
📋 Analiz Özeti
Analiz Adı: XRD Difraksiyon Paterni Çekimi – İnce Film
Kullanılan Cihaz: XRD (X-Işını Difraktometresi)
Analiz Süresi: En geç 2 hafta içerisinde sonuç
Numune Türü: Cam, silikon, metal veya seramik altlık üzerine kaplanmış ince film ve kaplama numuneler
🔬 Bu Analiz Nedir?
XRD (X-Ray Diffraction – X-Işını Difraksiyonu), kristal yapıya sahip malzemelerin faz ve yapı analizinde kullanılan temel yöntemdir. İnce film numunelerde yapılan XRD analizi, özellikle kaplama veya yüzey tabakasının kristal yapısını incelemek için uygulanır.
İnce film ölçümlerinde:
- Film fazları
- Kristal yapı ve yönelim (tekstür)
- Pik konumları (2θ)
- Pik şiddetleri
belirlenir.
Altlık etkisini minimize etmek için uygun ölçüm geometrisi (örneğin düşük açılı veya yüzeye duyarlı tarama) tercih edilebilir.
✅ XRD İnce Film Analizi Ne Zaman Tercih Edilir?
Kaplama fazı doğrulanacaksa:
Sentezlenen veya kaplanan filmin beklenen kristal yapıda olup olmadığı kontrol edilmek istendiğinde.
Isıl işlem sonrası yapı değişimi incelenecekse:
Annealing sonrası faz dönüşümü araştırılacaksa.
Tekstür/yönelim analizi gerekiyorsa:
Belirli kristal yöneliminin varlığı değerlendirilecekse.
Ar-Ge ve malzeme geliştirme çalışmaları için:
Yeni geliştirilen ince film sisteminin kristal yapısı karakterize edilecekse.
🧪 Hangi Numuneler İçin Uygundur?
Bu analiz özellikle şu sistemlerde uygulanır:
- Cam altlık üzeri ince filmler
- Silikon wafer üzeri kaplamalar
- Metal altlık üzeri kaplamalar
- Seramik yüzey kaplamaları
- Sol–jel, sputter, CVD, PVD ile üretilmiş filmler
📌 Film kalınlığı ve altlık tipi başvuru sırasında belirtilmelidir.
📊 Bu Analizden Ne Öğrenirsiniz?
- 2θ – Yoğunluk grafiği
- İnce film fazlarının belirlenmesi
- Kristal yönelim hakkında ön bilgi
- Pik kaymaları (gerilim/strain göstergesi olabilir)
- Kristalinite hakkında genel değerlendirme
Talep edilirse faz eşleştirme yapılabilir.
🔍 Bu Analizi Kim, Neden Yaptırır?
Kaplama ve Yüzey Teknolojileri
❓ “Kaplama kristal mi amorf mu?”
❓ “Isıl işlem sonrası faz değişti mi?”
➡️ Kaplama ve yüzey mühendisliği firmaları
Yarı İletken ve İnce Film Teknolojileri
❓ “Film beklenen kristal yapıda mı?”
❓ “Tekstür oluştu mu?”
➡️ Yarı iletken ve ince film araştırma ekipleri
Enerji ve Fonksiyonel Malzemeler
❓ “Fotokatalitik/enerji malzemesi fazı doğru mu?”
❓ “Faz saflığı sağlandı mı?”
➡️ Enerji malzemesi geliştiren Ar-Ge ekipleri
Akademik Çalışmalar
❓ “Ürettiğim ince filmin kristal yapısını doğrulayabilir miyim?”
➡️ Üniversiteler ve araştırma merkezleri
🧬 Numune Nasıl Hazırlanır?
✅ Numune yüzeyi temiz olmalıdır
✅ Film kaplı altlık bütün halde gönderilebilir
✅ Film kalınlığı ve altlık bilgisi belirtilmelidir
✅ Numune yüzeyi çizilmemiş olmalıdır
📌 Numunenin boyutları başvuru öncesi teyit edilmelidir.
⏱️ Analiz Süreci ve Süre
Numune Kabulü ve Ön Değerlendirme
Uygun ölçüm geometrisinin seçimi
İnce film XRD taraması
Veri işleme ve grafik oluşturma
Raporlama
Toplam Süre: Numune yoğunluğuna bağlı olarak değişebilir (en geç 2 hafta içerisinde sonuçlandırılır)
📄 Raporunuzda Neler Olur?
✔️ XRD difraksiyon paterni (2θ – Yoğunluk grafiği)
✔️ Ölçüm aralığı ve parametre bilgisi
✔️ Pik konumları
✔️ Talep edilirse faz eşleştirme değerlendirmesi
📞 Analiz Başvurusu Nasıl Yapılır?
1️⃣ Otomasyon sistemine giriş yapın
👉 merklab.yildiz.edu.tr
2️⃣ “XRD Difraksiyon Paterni – İnce Film” hizmetini seçin
- Altlık türünü ve film kalınlığını belirtin
- Varsa beklenen faz bilgisini ekleyin
3️⃣ Numunenizi teslim edin
📍 Davutpaşa Kampüsü, Merkezi Araştırma Laboratuvarı
4️⃣ Sonuçları sistem üzerinden indirin
❓ Sık Sorulan Sorular
S: İnce film ile toz XRD arasında fark var mı?
C: Evet. İnce filmlerde altlık etkisi ve film kalınlığı dikkate alınarak farklı ölçüm geometrileri kullanılabilir.
S: Amorf film analiz edilebilir mi?
C: Amorf yapılar geniş bant şeklinde gözlenir; keskin kristal pikleri görülmez.
S: Tekstür analizi yapılabilir mi?
C: Standart paterne göre ön değerlendirme yapılabilir; detaylı tekstür analizi ayrıca planlanmalıdır.
📧 İletişim ve Danışmanlık
📧 merkezlab@yildiz.edu.tr
📞 0 (212) 383 8033
Numunenizin ölçüm geometrisi ve faz analizi kapsamı için e-posta ile iletişime geçebilirsiniz.
🎯 İnce film ve kaplama numunelerinizin kristal yapısını ve faz dağılımını belirlemek için XRD Difraksiyon Paterni Çekimi – İnce Film hizmetimize başvurabilirsiniz.