Bu Analiz Ne İşe Yarar?
FE-SEM (Alan Emisyonlu Taramalı Elektron Mikroskobu), konvansiyonel SEM’in çok ötesinde bir çözünürlük sunar. Apreo 2 S cihazı 1 kV’de 0.9 nm çözünürlük değerine ulaşabilir; bu değer standart SEM’de 8 nm civarındadır. Birkaç nanometre boyutundaki yapılar bile net bir şekilde görüntülenebilir.
Özellikle yalıtkan nanomalzemelerin, polimerlerin ve biyolojik yapıların düşük hızlandırma voltajlarında bile zarar görmeden incelenmesine olanak tanır. STEM dedektörü sayesinde 0.55 nm çözünürlükte ince kesit görüntüleme yapılabilir.