AFM Temaslı Çekim (Contact Mode)
Nano Ölçekte Yüzey Topografyasını Yüksek Hassasiyetle Analiz Edin
📋 Analiz Özeti
Analiz Adı: AFM Temaslı Çekim (Contact Mode)
Kullanılan Cihaz: AFM (Atomic Force Microscope)
Analiz Süresi: En geç 2 hafta içerisinde sonuç
Numune Türü: İnce film, kaplama, yarı iletken, seramik, cam, polimer ve düz yüzeyli katı numuneler
🔬 Bu Analiz Nedir?
AFM (Atomic Force Microscopy), yüzeyi nanometre ve hatta atomik ölçekte tarayarak üç boyutlu topografik görüntü elde eden bir analiz yöntemidir.
Contact Mode (Temaslı Mod)’da, AFM probu yüzeye sürekli temas ederek yüzey yüksekliğini ve topografyasını ölçer. Bu mod özellikle:
- Sert ve dayanıklı yüzeylerde
- Yüksek çözünürlüklü topografik analizlerde
- Düşük yüzey pürüzlülüğünün hassas ölçümünde
tercih edilir.
✅ AFM Contact Mode Ne Zaman Tercih Edilir?
Nano ölçekte yüzey pürüzlülüğü ölçülecekse:
Kaplama veya ince film yüzey kalitesi değerlendirilecekse.
Yüksek çözünürlük gerekiyorsa:
Yüzey morfolojisinin detaylı analizi isteniyorsa.
Sert malzemeler analiz edilecekse:
Seramik, metal, cam gibi dayanıklı yüzeylerde.
Ar-Ge ve kalite kontrol çalışmaları için:
Üretim sonrası yüzey kalitesi karşılaştırılacaksa.
🧪 Hangi Numuneler İçin Uygundur?
- İnce film ve kaplamalar
- Yarı iletken wafer yüzeyleri
- Seramik ve cam yüzeyler
- Metal yüzeyler
- Polimer kaplı düz numuneler
📌 Numunenin yüzeyi düz ve temiz olmalıdır.
📊 Bu Analizden Ne Öğrenirsiniz?
- 2D ve 3D yüzey topografya görüntüleri
- Ortalama yüzey pürüzlülüğü (Ra, Rq vb.)
- Nano ölçekte yükseklik farkları
- Yüzey morfolojik özellikleri
AFM, SEM’den farklı olarak yüzey topografyasını gerçek yükseklik bilgisiyle verir.
🔍 Bu Analizi Kim, Neden Yaptırır?
İnce Film ve Kaplama Geliştirme
❓ “Yüzey pürüzlülüğü kaç nanometre?”
❓ “Kaplama homojen mi?”
➡️ Kaplama ve yarı iletken araştırma ekipleri
Malzeme ve Yüzey Mühendisliği
❓ “Yüzey işlemi sonrası pürüzlülük değişti mi?”
➡️ Üretim ve Ar-Ge ekipleri
Akademik Çalışmalar
❓ “Nano ölçekte topografik analiz yapmak istiyorum.”
➡️ Üniversiteler ve araştırma merkezleri
🧬 Numune Nasıl Hazırlanır?
✅ Numune yüzeyi temiz ve kuru olmalıdır
✅ Düz ve sabitlenebilir formda olmalıdır
✅ Toz veya gevşek yüzeyler için uygun sabitleme yapılmalıdır
✅ Numune boyutu cihaz tablasına uygun olmalıdır
📌 Yumuşak veya hassas yüzeylerde farklı mod tercih edilebilir.
⏱️ Analiz Süreci ve Süre
Numune Kabulü ve Ön Kontrol
Uygun tarama alanının seçimi
AFM Contact Mode taraması
Veri işleme ve pürüzlülük hesaplamaları
Raporlama
Toplam Süre: Tarama alanı ve çözünürlüğe bağlı olarak değişebilir (en geç 2 hafta içerisinde sonuçlandırılır)
📄 Raporunuzda Neler Olur?
✔️ 2D ve 3D AFM görüntüleri
✔️ Yüzey pürüzlülük değerleri (Ra, Rq vb.)
✔️ Tarama alanı ve çözünürlük bilgisi
✔️ Ölçüm parametreleri
✔️ Kısa teknik değerlendirme
📞 Analiz Başvurusu Nasıl Yapılır?
1️⃣ Otomasyon sistemine giriş yapın
👉 merklab.yildiz.edu.tr
2️⃣ “AFM Temaslı Çekim (Contact Mode)” hizmetini seçin
- Numune türünü belirtin
- Tarama alanı beklentinizi yazın (varsa)
3️⃣ Numunenizi teslim edin
4️⃣ Sonuçları sistem üzerinden indirin
❓ Sık Sorulan Sorular
S: Contact Mode her numune için uygun mu?
C: Sert yüzeyler için uygundur; çok yumuşak yüzeylerde yüzey hasarı oluşabilir.
S: Pürüzlülük ölçümü yapılır mı?
C: Evet, nanometre hassasiyetinde pürüzlülük değerleri hesaplanır.
S: SEM yerine AFM neden tercih edilir?
C: AFM, yüzey topografyasını gerçek yükseklik verisi ile ölçer ve nanometre düzeyinde pürüzlülük analizi sağlar.
📧 İletişim ve Danışmanlık
📧 merkezlab@yildiz.edu.tr
📞 0 (212) 383 8033
Numunenizin AFM analizine uygunluğu ve tarama parametreleri hakkında bilgi almak için e-posta ile iletişime geçebilirsiniz.
🎯 Nano ölçekte yüzey topografyasını ve pürüzlülüğünü hassas şekilde belirlemek için AFM Temaslı Çekim (Contact Mode) hizmetimize başvurabilirsiniz.