AFM Kelvin Prob Kuvvet Modu (Kelvin Probe Force Mode – KFM)

Nano Ölçekte Yüzey Potansiyeli ve Elektriksel Özellik Analizi

📋 Analiz Özeti

Analiz Adı: AFM Kelvin Prob Kuvvet Modu (KFM / KPFM)
Kullanılan Cihaz: AFM (Atomic Force Microscope) – Kelvin Probe Modülü
Analiz Süresi: En geç 2 hafta içerisinde sonuç
Numune Türü: Yarı iletkenler, ince filmler, kaplamalar, nanomalzemeler, iletken veya yarı iletken yüzeyler

🔬 Bu Analiz Nedir?

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM veya KFM), AFM tabanlı bir tekniktir ve yüzeyin yerel yüzey potansiyelini (surface potential) nanometre çözünürlükte ölçer.

Bu yöntem ile:

  • İş fonksiyonu farkları
  • Yüzey potansiyel dağılımı
  • Yük birikimi ve tuzaklanma bölgeleri
  • Elektriksel homojenlik

haritalanabilir.

AFM probu ile yüzey arasındaki elektrostatik kuvvet ölçülerek, yüzey potansiyel haritası oluşturulur.

✅ KFM Ne Zaman Tercih Edilir?

Yarı iletken analizlerinde:
p–n bölgeleri veya potansiyel farkları incelenecekse.

İnce film ve kaplama çalışmalarında:
Yüzey potansiyel homojenliği değerlendirilecekse.

Nanomalzemelerde:
Nanopartikül veya nano yapıların elektriksel özellikleri araştırılacaksa.

Fotovoltaik ve enerji malzemelerinde:
Yüzey yük dağılımı incelenecekse.

Ar-Ge ve akademik çalışmalar için:
Nano ölçekte elektriksel karakterizasyon gerekiyorsa.

🧪 Hangi Numuneler İçin Uygundur?

  • Yarı iletken wafer yüzeyleri
  • İnce film ve çok katmanlı yapılar
  • Kaplama ve fonksiyonel yüzeyler
  • Nanopartikül içeren sistemler
  • Elektriksel özellik gösteren malzemeler

📌 Numunenin yüzeyi düz, temiz ve sabitlenebilir olmalıdır.

📊 Bu Analizden Ne Öğrenirsiniz?

  • Yüzey potansiyel haritası
  • Nano ölçekte potansiyel farkları
  • Elektriksel homojenlik değerlendirmesi
  • Yük dağılım bölgeleri
  • İş fonksiyonu farklılıkları (göreli)

KFM, morfolojik veri ile birlikte elektriksel haritalama imkânı sunar.

🔍 Bu Analizi Kim, Neden Yaptırır?

Yarı İletken ve Mikroelektronik

❓ “Yüzey potansiyel dağılımı nedir?”
❓ “p–n geçiş bölgesi net görülebilir mi?”

➡️ Yarı iletken ve mikroelektronik araştırma ekipleri

Enerji ve Fotovoltaik Çalışmalar

❓ “Yüzey yük birikimi var mı?”
❓ “Elektriksel homojenlik nasıl?”

➡️ Enerji malzemesi geliştirme ekipleri

Nanoteknoloji ve İleri Malzemeler

❓ “Nanoyapıların elektriksel davranışı nedir?”

➡️ Nanomalzeme Ar-Ge ekipleri

Akademik Araştırmalar

❓ “Nano ölçekte yüzey potansiyel haritası çıkarmak istiyorum.”

➡️ Üniversiteler ve araştırma merkezleri

🧬 Numune Nasıl Hazırlanır?

✅ Numune yüzeyi temiz ve kuru olmalıdır
✅ Düz ve sabitlenebilir formda olmalıdır
✅ Elektriksel özelliklerin korunması için uygun ortam sağlanmalıdır
✅ Numune boyutu cihaz tablasına uygun olmalıdır

📌 Numune iletkenliği ve beklenen analiz amacı başvuru sırasında belirtilmelidir.

⏱️ Analiz Süreci ve Süre

Numune Kabulü ve Ön Kontrol
Topografik AFM taraması
Kelvin modunda potansiyel haritalama
Veri işleme ve analiz
Raporlama

Toplam Süre: Tarama alanı ve çözünürlüğe bağlı olarak değişebilir (en geç 2 hafta içerisinde sonuçlandırılır)

📄 Raporunuzda Neler Olur?

✔️ 2D ve 3D topografya görüntüleri
✔️ Yüzey potansiyel haritası
✔️ Tarama alanı ve çözünürlük bilgisi
✔️ Ölçüm parametreleri
✔️ Kısa teknik değerlendirme

📞 Analiz Başvurusu Nasıl Yapılır?

1️⃣ Otomasyon sistemine giriş yapın
👉 merklab.yildiz.edu.tr

2️⃣ “AFM Kelvin Prob Kuvvet Modu (KFM)” hizmetini seçin

  • Numune türünü belirtin
  • Beklenen analiz kapsamını yazın

3️⃣ Numunenizi teslim edin

4️⃣ Sonuçları sistem üzerinden indirin

❓ Sık Sorulan Sorular

S: KFM ile elektriksel iletkenlik ölçülür mü?
C: Doğrudan iletkenlik değil, yüzey potansiyel farkları ölçülür.

S: Yüzey potansiyel haritası neyi gösterir?
C: Yüzeydeki yerel potansiyel değişimlerini ve elektriksel heterojenliği gösterir.

S: Topografya ve potansiyel birlikte alınır mı?
C: Evet, genellikle topografik veri ile birlikte potansiyel haritası elde edilir.

📧 İletişim ve Danışmanlık

📧 merkezlab@yildiz.edu.tr
📞 0 (212) 383 8033

Numunenizin KFM analizine uygunluğu ve ölçüm parametreleri hakkında bilgi almak için e-posta ile iletişime geçebilirsiniz.

🎯 Nano ölçekte yüzey potansiyel dağılımını ve elektriksel heterojenliği belirlemek için AFM Kelvin Prob Kuvvet Modu (KFM) hizmetimize başvurabilirsiniz.