Bu Analiz Ne İşe Yarar?
AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu), ucu atomik boyutta keskin bir iğne ile yüzeyi tarayarak nanometre çözünürlüğünde topografya, sertlik, elektrik, manyetik ve kimyasal özellik haritaları oluşturur. Farklı çalışma modlarıyla çok çeşitli fiziksel özelliklere ulaşmak mümkündür: Temaslı/Temassız modlar topografya için, MFM manyetik alan dağılımı için, C-AFM elektrik iletkenlik haritası için, KFM yüzey potansiyeli için, FMM sertlik dağılımı için kullanılır.