AFM (Atomic Force Microscopy)

Nano Ölçekte Yüzey Topografisi ve Mekanik Özellik Analizi

📋 Analiz Özeti

Analiz Adı: AFM – Atomik Kuvvet Mikroskobu
Yöntem: Prob ucu ile yüzey tarama (nano ölçekli topografi ölçümü)
Analiz Türü: Yüzey pürüzlülüğü, topografi, faz görüntüleme, mekanik ve elektriksel modlar (talebe göre)
Analiz Süresi: En geç 2 hafta içerisinde sonuç
Numune Türü: İnce film, kaplama, polimer, biyomalzeme, yarı iletken ve düz yüzeyli katı numuneler

🔬 Bu Analiz Nedir?

AFM (Atomic Force Microscopy), çok ince bir prob ucu ile yüzeyin nanometre hatta atomik ölçeğe kadar taranması prensibine dayanır.

Prob, yüzey üzerinde hareket ederken yüzey kuvvetleri ölçülür ve bu bilgiler kullanılarak:

  • 2D ve 3D yüzey topografisi
  • Yüzey pürüzlülüğü (Ra, RMS)
  • Faz görüntüsü
  • Mekanik ve elektriksel özellikler

belirlenir.

AFM, elektron mikroskoplarından farklı olarak iletkenlik gerektirmez ve çok yüksek çözünürlük sunar.

✅ Ne Zaman Tercih Edilir?

Nano yüzey analizi gerektiğinde:
Nanometre düzeyinde pürüzlülük ölçülecekse.

İnce film çalışmalarında:
Kaplama kalitesi incelenecekse.

Polimer ve biyomalzemelerde:
Yüzey morfolojisi ve faz ayrımı araştırılacaksa.

Yarı iletken ve elektronik malzemelerde:
Nano ölçekte yüzey kontrolü yapılacaksa.

Ar-Ge ve akademik projelerde:
Yayın kalitesinde nano yüzey görüntüsü isteniyorsa.

🧪 Hangi Numuneler İçin Uygundur?

  • İnce film ve kaplamalar
  • Polimer ve kompozit yüzeyler
  • Yarı iletken waferlar
  • Biyomalzemeler
  • Düz ve rijit yüzeyli katı numuneler

📌 Numune yüzeyi düz ve sabitlenebilir olmalıdır.

📊 Bu Analizden Ne Öğrenirsiniz?

  • 2D ve 3D yüzey topografisi
  • Ortalama yüzey pürüzlülüğü (Ra, RMS)
  • Nano ölçekte faz dağılımı
  • Yüzey homojenliği
  • (Talebe bağlı) mekanik veya elektriksel haritalama

AFM, nano yüzey karakterizasyonunda en hassas yöntemlerden biridir.

🔍 Bu Analizi Kim, Neden Yaptırır?

Nanoteknoloji ve İnce Film Araştırmaları

❓ “Yüzey pürüzlülüğü nano ölçekte nedir?”
➡️ Nanomalzeme ve ince film Ar-Ge ekipleri

Yarı İletken ve Elektronik Sektörü

❓ “Yüzey kalitesi yeterince düzgün mü?”
➡️ Elektronik ve mikro/nano üretim ekipleri

Biyomalzeme ve Polimer Çalışmaları

❓ “Yüzey morfolojisi hücre etkileşimini etkiler mi?”
➡️ Biyomalzeme araştırma ekipleri

Akademik Araştırmalar

❓ “Nano ölçekte yüzey haritası yayınlamak istiyorum.”
➡️ Üniversiteler ve araştırma merkezleri

🧬 Numune Nasıl Hazırlanmalıdır?

✅ Numune yüzeyi temiz ve kuru olmalıdır
✅ Düz ve sabitlenebilir olmalıdır
✅ Boyut bilgisi paylaşılmalıdır
✅ İstenen tarama alanı belirtilmelidir

📌 Toz ve gevşek partikül içermemelidir.

⏱️ Analiz Süreci ve Süre

Numune Kabulü
Uygun modun seçilmesi (Contact, Non-contact vb.)
Nano ölçekte yüzey taraması
Topografik veri elde edilmesi
Veri analizi ve raporlama

Toplam Süre: Numune ve analiz moduna bağlı olarak değişebilir (en geç 2 hafta içerisinde sonuçlandırılır)

📄 Raporunuzda Neler Olur?

✔️ 2D ve 3D yüzey görüntüleri
✔️ Yüzey pürüzlülük değerleri (Ra, RMS)
✔️ Tarama alanı bilgisi
✔️ Ölçüm parametreleri
✔️ Kısa teknik değerlendirme

📞 Başvuru Nasıl Yapılır?

1️⃣ Otomasyon sistemine giriş yapın
👉 merklab.yildiz.edu.tr

2️⃣ “AFM Analizi” hizmetini seçin

  • Numune türünü belirtin
  • İstenen mod ve tarama alanını yazın

3️⃣ Numunenizi teslim edin

4️⃣ Sonuçları sistem üzerinden indirin

❓ Sık Sorulan Sorular

S: AFM ile atomlar görülebilir mi?
C: Uygun koşullarda atomik çözünürlüğe yaklaşan görüntüler alınabilir.

S: İletken numune gerekli mi?
C: Hayır, AFM iletkenlik gerektirmez.

S: Hangi modlar kullanılabilir?
C: Contact, Non-contact, Tapping ve özel fonksiyonel modlar uygulanabilir.

📧 İletişim ve Danışmanlık

📧 merkezlab@yildiz.edu.tr
📞 0 (212) 383 8033

Numunenizin AFM analizine uygunluğu ve uygun tarama modu hakkında bilgi almak için e-posta ile iletişime geçebilirsiniz.

🎯 Nano ölçekte yüzey topografisi ve pürüzlülük analizi için AFM hizmetimize başvurabilirsiniz.