AFM Akım / İletkenlik Modu (Current Mode – C-AFM)
Nano Ölçekte Yerel Elektriksel İletkenlik Haritalama
📋 Analiz Özeti
Analiz Adı: AFM Akım / İletkenlik Modu (C-AFM)
Kullanılan Cihaz: AFM (Atomic Force Microscope) – Conductive AFM Modülü
Analiz Süresi: En geç 2 hafta içerisinde sonuç
Numune Türü: Yarı iletkenler, iletken ince filmler, kaplamalar, nanomalzemeler ve elektriksel özellik gösteren yüzeyler
🔬 Bu Analiz Nedir?
C-AFM (Conductive Atomic Force Microscopy), AFM probu ile yüzey arasında uygulanan bias gerilimi altında yerel akım geçişini ölçerek yüzeyin elektriksel iletkenliğini nano ölçekte haritalayan bir tekniktir.
Bu yöntem ile:
- Yerel akım dağılımı
- İletken ve yalıtkan bölgelerin ayrımı
- Elektriksel homojenlik
- Defekt veya iletkenlik kanalları
belirlenebilir.
Topografya ve akım haritası eş zamanlı olarak elde edilebilir.
✅ C-AFM Ne Zaman Tercih Edilir?
İnce film ve kaplamalarda iletkenlik analizi için:
Film boyunca elektriksel homojenlik incelenecekse.
Yarı iletken yüzey analizlerinde:
Yerel iletkenlik farkları araştırılacaksa.
Nanomalzemelerde:
Nanopartikül veya nanoyapıların iletken davranışı incelenecekse.
Elektriksel defekt analizi için:
Kısa devre noktaları veya akım kaçak bölgeleri araştırılacaksa.
Ar-Ge ve akademik çalışmalar için:
Nano ölçekte elektriksel karakterizasyon yapılacaksa.
🧪 Hangi Numuneler İçin Uygundur?
- Yarı iletken wafer yüzeyleri
- İletken veya yarı iletken ince filmler
- Grafen, CNT ve iletken nanomalzemeler
- Fonksiyonel kaplama sistemleri
- Elektronik malzemeler
📌 Numunenin elektriksel temas sağlayabilecek yapıda olması gerekir.
📊 Bu Analizden Ne Öğrenirsiniz?
- Akım dağılım haritası
- İletken ve yalıtkan bölgelerin ayrımı
- Yerel iletkenlik farklılıkları
- Defekt bölgelerinin konumu
- Topografya ile iletkenlik ilişkisi
C-AFM, morfoloji ile elektriksel özelliklerin birlikte değerlendirilmesini sağlar.
🔍 Bu Analizi Kim, Neden Yaptırır?
Yarı İletken ve Mikroelektronik
❓ “Yüzeyde yerel iletkenlik farkları var mı?”
❓ “Kaçak akım bölgeleri nerede?”
➡️ Yarı iletken ve mikroelektronik araştırma ekipleri
İnce Film ve Kaplama Geliştirme
❓ “Kaplama boyunca iletkenlik homojen mi?”
➡️ Kaplama ve fonksiyonel malzeme Ar-Ge ekipleri
Nanoteknoloji Çalışmaları
❓ “Nanoyapıların elektriksel davranışı nedir?”
➡️ Nanomalzeme araştırma ekipleri
Akademik Araştırmalar
❓ “Nano ölçekte iletkenlik haritası çıkarmak istiyorum.”
➡️ Üniversiteler ve araştırma merkezleri
🧬 Numune Nasıl Hazırlanır?
✅ Numune yüzeyi temiz ve kuru olmalıdır
✅ Numune elektriksel temas sağlayacak şekilde hazırlanmalıdır
✅ Düz ve sabitlenebilir formda olmalıdır
✅ Numune boyutu cihaz tablasına uygun olmalıdır
📌 Alt temas (back contact) gereksinimi başvuru sırasında belirtilmelidir.
⏱️ Analiz Süreci ve Süre
Numune Kabulü ve Elektriksel Uygunluk Kontrolü
Topografik tarama
Bias uygulanarak akım haritalama
Veri işleme ve analiz
Raporlama
Toplam Süre: Tarama alanı ve ölçüm koşullarına bağlı olarak değişebilir (en geç 2 hafta içerisinde sonuçlandırılır)
📄 Raporunuzda Neler Olur?
✔️ Topografya görüntüsü
✔️ Akım/iletkenlik haritası
✔️ Tarama alanı ve çözünürlük bilgisi
✔️ Uygulanan bias gerilimi bilgisi
✔️ Kısa teknik değerlendirme
📞 Analiz Başvurusu Nasıl Yapılır?
1️⃣ Otomasyon sistemine giriş yapın
👉 merklab.yildiz.edu.tr
2️⃣ “AFM Akım / İletkenlik Modu (C-AFM)” hizmetini seçin
- Numune türünü belirtin
- Uygulanacak gerilim aralığını yazın (varsa)
3️⃣ Numunenizi teslim edin
4️⃣ Sonuçları sistem üzerinden indirin
❓ Sık Sorulan Sorular
S: Mutlak iletkenlik değeri ölçülür mü?
C: Yerel akım dağılımı ölçülür; mutlak iletkenlik hesaplaması matrise bağlıdır.
S: Topografya ve akım birlikte alınır mı?
C: Evet, genellikle eş zamanlı olarak elde edilir.
S: Yalıtkan malzemelerde analiz yapılabilir mi?
C: Tam yalıtkan malzemelerde akım ölçümü mümkün değildir; uygun iletken yol gereklidir.
📧 İletişim ve Danışmanlık
📧 merkezlab@yildiz.edu.tr
📞 0 (212) 383 8033
Numunenizin C-AFM analizine uygunluğu ve elektriksel temas gereksinimleri hakkında bilgi almak için e-posta ile iletişime geçebilirsiniz.
🎯 Nano ölçekte yerel iletkenlik dağılımını ve elektriksel heterojenliği belirlemek için AFM Akım / İletkenlik Modu (C-AFM) hizmetimize başvurabilirsiniz.