AFM Temassız Çekim (Non-Contact Mode)
Hassas ve Yumuşak Yüzeylerde Nano Ölçekte Temassız Topografya Analizi
📋 Analiz Özeti
Analiz Adı: AFM Temassız Çekim (Non-Contact Mode)
Kullanılan Cihaz: AFM (Atomic Force Microscope)
Analiz Süresi: En geç 2 hafta içerisinde sonuç
Numune Türü: İnce film, polimer, biyomalzeme, kaplama, yarı iletken ve hassas yüzeyli katı numuneler
🔬 Bu Analiz Nedir?
AFM (Atomic Force Microscopy), yüzeyi nanometre ölçeğinde tarayarak üç boyutlu topografik veri elde eden ileri bir yüzey analiz yöntemidir.
Non-Contact Mode (Temassız Mod)’da prob, yüzeye fiziksel temas etmeden, yüzey ile prob arasındaki zayıf kuvvetleri (van der Waals vb.) ölçerek görüntü oluşturur.
Bu yöntem özellikle:
- Yumuşak ve hassas yüzeylerde
- Polimer ve biyolojik örneklerde
- İnce film ve kaplamalarda
- Yüzey hasarının istenmediği durumlarda
tercih edilir.
✅ AFM Non-Contact Mode Ne Zaman Tercih Edilir?
Yumuşak veya hassas yüzey analiz edilecekse:
Prob temasının yüzeye zarar verebileceği durumlarda.
Nano ölçekte yüzey pürüzlülüğü ölçülecekse:
Kaplama veya ince film kalitesi değerlendirilecekse.
Yüzey morfolojisi bozulmadan incelenecekse:
Biyomalzemeler veya polimer yüzeylerde.
Ar-Ge ve kalite kontrol çalışmalarında:
Yüzey işlemi sonrası değişim karşılaştırılacaksa.
🧪 Hangi Numuneler İçin Uygundur?
- Polimer ve plastik yüzeyler
- İnce film ve kaplamalar
- Biyomalzemeler
- Yarı iletken wafer yüzeyleri
- Hassas veya düşük sertlikte yüzeyler
📌 Numunenin yüzeyi temiz, kuru ve düz olmalıdır.
📊 Bu Analizden Ne Öğrenirsiniz?
- 2D ve 3D yüzey topografya görüntüleri
- Ortalama yüzey pürüzlülüğü (Ra, Rq vb.)
- Nano ölçekte yükseklik farkları
- Yüzey morfolojik detayları
Non-contact mod, yüzey hasarı riskini minimize ederek hassas analiz sağlar.
🔍 Bu Analizi Kim, Neden Yaptırır?
İnce Film ve Kaplama Geliştirme
❓ “Yüzey pürüzlülüğü kaç nanometre?”
❓ “Kaplama homojen mi?”
➡️ Kaplama ve yarı iletken araştırma ekipleri
Polimer ve Biyomalzeme Çalışmaları
❓ “Yüzey yapısı zarar görmeden analiz edilebilir mi?”
❓ “Nano ölçekte yüzey morfolojisi nedir?”
➡️ Polimer ve biyomalzeme araştırma ekipleri
Akademik ve Ar-Ge
❓ “Nano ölçekte yüzey analizini temassız yapmak istiyorum.”
➡️ Üniversiteler ve araştırma merkezleri
🧬 Numune Nasıl Hazırlanır?
✅ Numune yüzeyi temiz ve kuru olmalıdır
✅ Düz ve sabitlenebilir formda olmalıdır
✅ Toz veya gevşek yüzeyler uygun şekilde sabitlenmelidir
✅ Numune boyutu cihaz tablasına uygun olmalıdır
📌 Numune türü ve hassasiyet durumu başvuru sırasında belirtilmelidir.
⏱️ Analiz Süreci ve Süre
Numune Kabulü ve Ön Kontrol
Uygun tarama alanının belirlenmesi
AFM Non-Contact taraması
Veri işleme ve pürüzlülük hesaplamaları
Raporlama
Toplam Süre: Tarama alanı ve çözünürlüğe bağlı olarak değişebilir (en geç 2 hafta içerisinde sonuçlandırılır)
📄 Raporunuzda Neler Olur?
✔️ 2D ve 3D AFM görüntüleri
✔️ Yüzey pürüzlülük değerleri (Ra, Rq vb.)
✔️ Tarama alanı ve çözünürlük bilgisi
✔️ Ölçüm parametreleri
✔️ Kısa teknik değerlendirme
📞 Analiz Başvurusu Nasıl Yapılır?
1️⃣ Otomasyon sistemine giriş yapın
👉 merklab.yildiz.edu.tr
2️⃣ “AFM Temassız Çekim (Non-Contact Mode)” hizmetini seçin
- Numune türünü belirtin
- Tarama alanı beklentinizi yazın (varsa)
3️⃣ Numunenizi teslim edin
4️⃣ Sonuçları sistem üzerinden indirin
❓ Sık Sorulan Sorular
S: Non-contact mod her numune için uygun mu?
C: Özellikle yumuşak ve hassas yüzeyler için uygundur; çok pürüzlü yüzeylerde sinyal kalitesi değişebilir.
S: Pürüzlülük ölçümü yapılır mı?
C: Evet, nanometre hassasiyetinde pürüzlülük değerleri hesaplanır.
S: Contact ve Non-contact arasındaki fark nedir?
C: Contact modda prob yüzeye temas eder; non-contact modda yüzeye temas etmeden ölçüm yapılır.
📧 İletişim ve Danışmanlık
📧 merkezlab@yildiz.edu.tr
📞 0 (212) 383 8033
Numunenizin AFM analizine uygunluğu ve doğru mod seçimi hakkında bilgi almak için e-posta ile iletişime geçebilirsiniz.
🎯 Hassas ve yumuşak yüzeylerde nano ölçekte topografya ve pürüzlülük analizi için AFM Temassız Çekim (Non-Contact Mode) hizmetimize başvurabilirsiniz.