Bu Analiz Ne İşe Yarar?

İnce film XRD analizi, bir substrat (cam, silikon, metal vb.) üzerine biriktirilmiş kaplamalar veya ince filmlerin kristal yapısını, oryantasyonunu ve kalitesini incelemeye yarar. Standart toz XRD’den farklı olarak, ışın çok küçük açıyla numuneye gönderilir; böylece altındaki substrat değil yalnızca kaplama tabakası incelenir.

Numune boyutu (1.5 – 3 cm) × (1.5 – 3 cm), yüksekliği 0.5 – 3 mm aralığında olmalıdır.

Bu Analizle Şu Soruların Cevabını Bulabilirsiniz

  • Camın üzerine kapladığım ince filmin kristal kalitesi nasıl?
  • Yaptığım kaplama yüzeye düzgün (epitaksiyel) yerleşmiş mi?
  • Gofret (wafer) üzerindeki tabakaların yapısal özellikleri nedir?
  • Yarı iletken ince filmimin kristal yapısı üretim parametrelerine göre değişiyor mu?

Kimler İçin Uygundur?

Yarı iletken ve elektronik malzeme üreticileri, optik kaplama firmaları, solar enerji araştırmacıları, yüzey mühendisliği grupları.

XRD – İnce Film Difraksiyon Paterni Analizi Neden YTÜ Merkezi Araştırma Laboratuvarı'nda Yaptırmalısınız?

  • ISO 17025 uluslararası akreditasyona sahip laboratuvar altyapısı
  • Uzman akademik ve teknik personel desteği
  • Son teknoloji cihazlar ve güvenilir sonuçlar
  • Detaylı analiz raporu ve sonuç yorumlama
  • Online başvuru imkanı: merklab.yildiz.edu.tr

Analiz Hizmeti Almak İster misiniz?

Detaylı bilgi almak ve analiz başvurusu yapmak için bizimle iletişime geçin.